云中谷智能科技有限公司自主研发的COB（标准设备兼容100G/200G/400G/800G等产品）、 COC等产品老化测试系统，适用于半导体光芯片、光通信、消费电子等领域的可靠性验证。

通过系统性整合可以构建完整的芯片可靠性评估体系，具备芯片温控、LIV 测试、光谱分析、自动化测试等功能，测试效率高，为芯片质量管控和性能优化提供高效、精准的技术支持。

目前产品已成功在多家行业头部企业量产运行。