6433系列光波元件分析仪，不仅适用于光器件（如电光器件、光电器件、光光器件）的S参数测试，同样也适用于5G光芯片（如PD芯片、LD芯片）的S参数测试。然而，在传统的光芯片测试方法中，探针的校准往往依赖于校准片，虽然其校准精度高，但存在几个不足之处：首先，需要使用开路、短路、负载等多种校准片，增加了测试的复杂性；其次，用户需要自行创建校准标准，这对于非专业用户来说可能具有挑战性；最后，整个校准过程相对繁琐，可能会影响用户对仪器的使用体验。

> 快速校准策略

在面对6433系列光波元件分析仪在5G光芯片S参数测试中遇到的问题时，我们需要寻求一种更为便捷且准确的校准方法。传统的探针校准方法虽然精度高，但操作复杂，不利于非专业用户的使用。因此，我们提出了一种创新的解决方案，旨在简化校准流程，提升用户的使用体验。这一方案不仅适用于中电科思仪科技股份有限公司的6433系列分析仪，也为其他类似的光波元件分析仪提供了有益的参考。

6433x系列光波元件分析仪，以公司3672x系列矢量网络分析仪为基础平台，借助自动夹具移除软件选件，可实现对光芯片（如直接调制激光器、电吸收调制器、光电探测器）的快速测试。此方案有效解决了光芯片S参数测试前的链路校准难题。在测试过程中，高频探针被视为一种夹具，通过自动夹具移除技术测量其时域参数。随后，利用信号流图提取频域参数，并生成s2p文件。最终，结合射频去嵌入技术，实现对光芯片的高精度S参数测试。

> 自动夹具移除技术

以PD芯片为例，我们采用了基于自动夹具移除的光芯片测试方法。在测试过程中，输出的光信号通过光纤跳线被精准地引导至被测芯片的输入端，而芯片产生的电信号则通过射频电缆与仪器的射频端口2相连。在测试环节，我们首先运用自动夹具移除功能，获取高频探针的s2p文件，进而利用射频去嵌入技术，有效消除探针引入的测量偏差，从而确保获取到被测芯片的精确S参数。

> 实际效果展示

通过运用自动夹具移除功能，光波元件分析仪能够精确地获取高频探针的参数信息。在电光芯片或光电芯片的测试过程中，该功能有效消除了探针引入的测量误差，从而高精度地表征了芯片的S参数。以下图表展示了基于6433光波元件分析仪所实现的光芯片在片测试的成功案例。