YG-W3210晶圆AOI检测设备是云中谷推出的微米级精度的自动光学检测设备， 其基于先进的光学成像系统及搭配多种不同的照明方案，从而能解决不同材质的 成像问题。采用先进的图像识别技术和人工智能检测分类算法，能够快速、精准 的识别晶圆表面的各种微观缺陷，可适用于晶圆相关制程中的缺陷检测。设备具 有灵活、高效、识别准确率高等优势。
YG-W3210晶圆AOI检测设备是云中谷推出的微米级精度的自动光学检测设备， 其基于先进的光学成像系统及搭配多种不同的照明方案，从而能解决不同材质的 成像问题。采用先进的图像识别技术和人工智能检测分类算法，能够快速、精准 的识别晶圆表面的各种微观缺陷，可适用于晶圆相关制程中的缺陷检测。设备具 有灵活、高效、识别准确率高等优势。
