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光芯片测试

  • COC光芯片老化测试设备
COC光芯片老化测试设备

COC光芯片老化测试设备

  • 控温方式：TEC + 水冷0-100℃ 控温，0.1度分辨率，温度均匀性2℃老化全程自动监控，防止掉电等异常对产品损伤加电方式：连续/脉冲，电流精度0.1A，过充<0.1A

  • 控温方式：TEC + 水冷


  • 0-100℃ 控温，0.1度分辨率，温度均匀性±2℃


  • 老化全程自动监控，防止掉电等异常对产品损伤


  • 加电方式：连续/脉冲，电流精度0.1A，过充<0.1A

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