深度学习光芯片外观缺陷检测模型：脏污、崩边、划伤、气泡等缺陷。（检测精度小至0.5微米）
轻量级、速度快，易于本地化部署：实现实时光芯片自动化缺陷检测，且易于本地化嵌入式部署。
电 话：0512-568731
传 真：0512-568731
手 机：183516755
邮 箱：amy@zljtech.com
地 址：江苏省昆山市玉山镇中华园西路1798号
简体中文
English